Conductive AFM (cAFM) — 導電原子力顯微鏡（CAFM）是一種源自接觸AFM的二次成像模式，它表征了中到低導電和半導體材料的導電率變化。CAFM的電流范圍為pA至μA。

Bruker M4 Tornado 微區X射線熒光光譜儀是樣品成分分析、成分分布規律研究的新利器。

布魯克元素分析產品選型指南

是利用物質在火花激發下，檢測器通過檢測不同元素的特征譜線，而進行元素的定性與定量分析的。

地質礦石樣品多種多樣，手持式熒光光譜儀在應對不同的樣品時有著不同的測試方法。

通過整合技術，突破創新，使得手持XRF技術得以運用于各大領域