探針式輪廓儀Dektak XTL
探針式輪廓儀是一種用于化學,材料科學,電子與通信技術,化學工程領域的分析儀器.分析樣品表面.....
臺階儀-表面輪廓儀
德國布魯克DektakXT臺階儀(探針式表面輪廓儀)可以提供更高的重復性和分辨率,測量重復.....
三維光學輪廓儀ContourX-200
表面輪廓儀用于加工的表面，薄膜，半導體，眼科，醫療設備，MEMS和摩擦學等領域的測量分析。.....
光學輪廓儀ContourGT-X
布魯克光學輪廓儀特性：業界標桿，大視場下高的垂直分辨率；從0.5x到200x不同放大倍率實.....
反射膜厚儀
反射膜厚儀是一種非接觸式、快速的光學薄膜厚度測量技術。
反射膜厚儀
MProbe Vis薄膜測厚儀對大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。
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